Fotorrelés para aplicaciones de prueba de semiconductores
Toshiba Electronics Europe GmbH ("Toshiba") ha lanzado un nuevo fotorrelé capaz de funcionar con un accionamiento de baja tensión. Esto, junto con un rango de temperatura de funcionamiento ampliado, es ideal para las exigentes aplicaciones de prueba de semiconductores. Los comprobadores de semiconductores verifican que el dispositivo bajo prueba (DUT) cumple las especificaciones aplicando una tensión/corriente a los pines correspondientes.
Como los relés tradicionales no son adecuados, es habitual utilizar fotorrelés debido a su funcionamiento en estado sólido y su tamaño compacto. Normalmente, se utiliza una FPGA para el control pero, como éstas funcionan cada vez más a 1,8 V, la compatibilidad puede ser un problema.
El nuevo TLP3412SRLA ofrece la tensión de funcionamiento del fotorreceptor (VFON) más baja de la historia de Toshiba, de sólo 1,6 V, lo que lo hace adecuado para su uso con FPGA de 1,8 V de baja tensión. Incorpora una resistencia en el lado primario (LED), lo que permite un funcionamiento controlado por tensión sin necesidad de resistencias externas.
Es habitual probar semiconductores a temperaturas elevadas y, con los fotorrelés colocados en la tarjeta de sonda cerca del DUT, será necesario que funcionen a temperaturas ambiente elevadas. El nuevo dispositivo tiene una temperatura máxima de funcionamiento de 125 °C, lo que garantiza un margen de temperatura adecuado dentro del equipo.
Con la necesidad de altos niveles de rendimiento en los ensayos de semiconductores, a menudo se prueban múltiples DUT en paralelo, lo que requiere diseños de tarjetas de sonda muy densos. El TLP3412SRLA se aloja en el pequeño encapsulado original S-VSON4T de Toshiba, que mide sólo 1,45 mm × 2,0 mm × 1,4 mm.
El nuevo fotorrelé está configurado para un tipo de contacto 1-Form-A (NO) y tiene una corriente de estado activado (ION) de 400 mA de forma continua, o 1200 mA pulsado (tON/tOFF La resistencia de estado activado es típicamente de 1,0Ω y los tiempos de conmutación (tON/tOFF) son inferiores a 350μs / 150μs respectivamente. La tensión de aislamiento (BVs) es de al menos 500Vrms.
Además de ser ideal para la prueba de semiconductores, el TLP3412SRLA también es adecuado para una amplia variedad de aplicaciones industriales exigentes, incluidos los controladores lógicos programables (PLC).
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