La serie AF013x Hyperlux ofrece mediciones de alta precisión a larga distancia e imágenes 3D de objetos en rápido movimiento mediante la nueva arquitectura de píxeles de obturador global patentada por ON Semiconductor, así como almacenamiento integrado. Con un formato óptico de 1/3,2" con CMOS e iluminación posterior (BSI) para la medición de profundidad e imagen, estos sensores permiten controlar el controlador láser dual en el chip con frecuencias de modulación de hasta 200 MHz y supervisión del umbral de seguridad ocular láser.
El sensor de imagen iToF AF0130 cuenta con un ASIC de procesamiento de profundidad apilado debajo del área de píxeles, que calcula mapas de profundidad, confianza e intensidad a alta velocidad a partir de sus exposiciones moduladas por láser. El sensor AF0130 Hyperlux puede captar una escena completa y procesar simultáneamente la medición de profundidad en tiempo real. Además, la familia de sensores AF013x genera imágenes monocromáticas e información de profundidad al mismo tiempo, lo que proporciona una visión completa del entorno sin necesidad de sensores independientes para datos visuales y de profundidad. El AF0131 se orienta a diseños con cálculo de profundidad externo al chip. Las placas de evaluación AF0130CSSM30SMKAH3-GEVK y AGBENECS-GEVK de onsemi, disponibles en mouser.com, respaldan el desarrollo de aplicaciones basadas en los sensores AF013x.
