Equipos de Prueba y Medida

Sistema de alta velocidad de terahercios para control de calidad industrial

Inicio desactivadoInicio desactivadoInicio desactivadoInicio desactivadoInicio desactivado
 

Las aplicaciones en calidad industrial y control de procesos aprovechan los sistemas de terahercios que son inherentemente seguros, funcionan sin contacto y logran una velocidad de medición muy alta. La velocidad de medición se vuelve particularmente relevante si la tarea involucra muestras que se mueven rápidamente, por ejemplo, medición de espesor en líneas de extrusión, o artículos en cintas transportadoras rápidas que pueden necesitar ser cribados con una resolución de un milímetro.

A diferencia de los espectrómetros convencionales de dominio de tiempo de terahercios, el TeraFlash inteligente no utiliza ninguna unidad de retardo mecánico, sino que incluye dos láseres de femtosegundo sincronizados con un retardo electrónico ("muestreo óptico controlado eléctricamente", ECOPS). Este concepto da como resultado velocidades de medición extremadamente altas: el TeraFlash Smart adquiere 1600 formas de onda completas de terahercios por segundo, lo que permite una medición de espesores basada en terahercios a una velocidad sin precedentes.

Configuración de medición flexible

En un tiempo de medición de solo 625 µs, el TeraFlash inteligente alcanza un ancho de banda espectral de 3 THz. El rango dinámico de la traza de pulso es superior a 50 dB. Dentro de un segundo después del promedio, este valor aumenta a> 80 dB y el ancho de banda excede los 4 THz. Los usuarios pueden ajustar de manera flexible la longitud del camino de terahercios de 10 cm a 180 cm. Las antenas transmisoras y receptoras acopladas a fibra se pueden colocar de manera flexible y permiten mediciones en transmisión o reflexión.

Las medidas de reflexión son particularmente adecuadas para determinar el grosor de las capas, por ejemplo para investigar el grosor de la pared de las tuberías de plástico, o la estructura de los recubrimientos de polímeros o la pintura de una o varias capas. Los cables de fibra de 10 m de largo permiten una separación espacial de la unidad de control del cabezal de medición, que incluso se puede montar en un brazo robótico.

El TeraFlash inteligente, una plataforma de terahercios ultrarrápida en dominio tiempo, alcanza una velocidad de medición inigualable de 1600 trazas de pulso completas / seg.

Aplicaciones:
Mediciones en línea
Medición de espesor
Pruebas no destructivas
Inspección de materiales

TOPTICA en analytica 2020: láseres de alta gama para espectroscopía, microscopía y control de calidad

Del 31 de marzo al 3 de abril, TOPTICA presentará sus últimos desarrollos en tecnología láser de alta gama en la exposición de Analytica en Munich, pabellón A1, stand n. ° 301. Estos incluyen láseres de diodo monomodo, motores de láser múltiple, láseres ampliamente ajustables y potentes láseres de fibra en femtosegundo, así como sistemas Terahercios. Los láseres de TOPTICA permiten una variedad de aplicaciones exigentes en biofotónica y microscopía, materiales e instrumentación y medida.

Más información o presupuesto

Articulos Electrónica Relacionados

Redes Sociales

Edicion Revista Impresa

1ww   

Para recibir la edición impresa o en PDF durante 1 año (10 ediciones)

Suscripción papel: 180,00.- €  (IVA inc.)

Suscripción PDF: 60,00.- € (IVA inc)

Noticias Populares Electrónica

Analizadores de potencia Yokogawa WT1800R

Yokogawa Test & Measurement Corporation anuncia el lanzamiento de la serie de analizadores de potencia de alto rendimiento WT1800R que combina...

Controlador PXIe de una sola ranura para aplicaciones de prueba y medida de alto rendimiento

Pickering Interfaces ha presentado su controlador integrado PXIe de una sola ranura de próxima generación (modelo 43-920-002), el controlador...

Placas AWG que generan formas de onda con una velocidad de 10 GS/s y un ancho de banda de 2,5 GHz

Con las nuevas placas PCIe AWG de Spectrum Instrumentation y los componentes COTS (Commercial-of-the-shelf) para PC, es posible generar casi...

Datalogger Emerson NI mioDAQ

Farnell ha anunciado la incorporación del nuevo dispositivo NI mioDAQ a la línea de productos de adquisición de datos (DAQ) USB de Emerson. NI...

Noticias Electrónica Profesional

Noticias Fuentes de Alimentación

Módulo multiplexor PXI/PXIe para pruebas MIL-STD-1553

Pickering Interfaces ha lanzado un nuevo módulo multiplexor PXI/PXIe optimizado para aplicaciones...

¿Cuál es la diferencia entre los osciloscopios en tiempo r

Al empezar mi carrera como ingeniero acepté un proyecto de investigación cuyo objetivo era...

¿Hasta dónde puede llegar? Siete consejos para mejorar la

¿Necesita que su osciloscopio pueda ver detalles de señales electrónicas cada vez más pequeñas? No es...

Actualidad Electrónica Profesionales

Módulo multiplexor PXI/PXIe para pruebas MIL-STD-1553

Pickering Interfaces ha lanzado un nuevo módulo multiplexor PXI/PXIe optimizado para aplicaciones...

¿Cuál es la diferencia entre los osciloscopios en tiempo r

Al empezar mi carrera como ingeniero acepté un proyecto de investigación cuyo objetivo era...

¿Hasta dónde puede llegar? Siete consejos para mejorar la

¿Necesita que su osciloscopio pueda ver detalles de señales electrónicas cada vez más pequeñas? No es...

Convertronic

Revista © Convertronic Electrónica Profesional Española.Todos los derechos reservados GM2 Publicaciones Técnicas, S.L.
Tel.: +34 91 706 56 69
Poema Sinfónico, 27. Esc B. Planta 1 Pta 5
28054 (Madrid - SPAIN)
e-mail: gm2@gm2publicacionestecnicas.com ó consultas@convertronic.net

Suscríbete a nuestro boletín de noticias

Revista Española de electrónica. Impresa desde hace más de 25 años.

España - Madrid - Todos los derechos reservados Revista © Convertronic Electrónica Profesional Española.

Search