Pickering Electronics ha anunciado la disponibilidad de otra guía educativa de aplicaciones de su serie destinada a ingenieros que construyen sistemas ATE (equipos de prueba automáticos) y de prueba y medida (T&M), titulada: "5 Reasons Why Reed Relays are Ideal for Semiconductor Testing" (5 razones por las que los relés en lámina son ideales para las pruebas de semiconductores).

Esta completa guía de aplicaciones, redactada por expertos, explica con más detalle el papel fundamental que desempeñan los relés Reed en las pruebas de semiconductores, especialmente durante las pruebas de sondas de obleas. La guía ofrece información sobre el uso de relés Reed en aplicaciones ATE para semiconductores, incluidas las cinco razones principales por las que, según Pickering, los relés Reed son la tecnología de conmutación ideal para las pruebas de semiconductores.

Después de fabricar las obleas de semiconductores, pero antes de «cortarlas y trocearlas» en los chips que se encapsularan en componentes, se someten a pruebas de sonda de oblea. Estas pruebas eléctricas y funcionales críticas se realizan con máquinas de sondeo de obleas, un tipo de equipo de prueba automático (ATE) que se utiliza para verificar la funcionalidad de los chips individuales, ya sean estructuras relativamente simples, como diodos y transistores, o circuitos integrados (CI) más complejos, como procesadores, microcontroladores, memorias y convertidores analógico-digitales (ADC). Estas pruebas ayudan a identificar cualquier defecto de forma temprana, confirmar la funcionalidad y garantizar la calidad de los chips antes de que se encapsulen y se utilicen en dispositivos electrónicos, lo que contribuye a mejorar el rendimiento.

Las sondas se mueven alrededor de la oblea para conectarse con las pastillas de la superficie de los chips individuales y aplicar las condiciones de prueba (por ejemplo, voltajes, corrientes o formas de onda) que suministra el ATE, así como para medir los niveles de voltaje, el flujo de corriente o las formas de onda de salida, por ejemplo, que el ATE necesita registrar. Los métodos de prueba de semiconductores incluyen pruebas paramétricas de CC (a diferentes niveles de corriente y voltaje) y pruebas paramétricas de CA (a diferentes frecuencias), ambas para garantizar que el dispositivo cumple con las especificaciones requeridas, y pruebas funcionales para garantizar que funciona según lo previsto. Para los dispositivos semiconductores de potencia, es necesario aplicar y registrar altos voltajes, y para los dispositivos de alta frecuencia/radiofrecuencia (HF/RF), es necesario aplicar y registrar formas de onda adecuadas.

«Todo esto significa que el ATE debe ser capaz de aplicar una variedad de condiciones de prueba», explica Robert King, director de productos de relés en lámina de Pickering Electronics. «Sin embargo, las estaciones de sondas suelen tener solo unas pocas sondas (dos es bastante habitual), por lo que el ATE debe ser capaz de cambiar entre múltiples condiciones de prueba y canalizar los resultados de las pruebas hacia los circuitos de acondicionamiento de señales adecuados, y aquí es donde los relés en lámina, como dispositivos de conmutación controlables, demuestran su incalculable valor. La guía de aplicaciones de Pickering explica las cinco razones principales por las que los relés en lámina son la tecnología de conmutación ideal para las pruebas de semiconductores.»

Descargue hoy mismo la guía gratuita para conocer las opiniones y recomendaciones de los expertos de Pickering sobre cómo seleccionar las tecnologías de relés adecuadas para sus necesidades específicas, y descubra por qué los relés Reed son la tecnología de conmutación ideal para las pruebas de semiconductores.

Los relés en lámina de Pickering son conocidos por su fiabilidad, gracias a sus procesos de fabricación y control de calidad superiores. Cuentan con contactos de rutenio pulverizado de grado instrumental, en lugar del rodio electrochapado más común asociado a los relés en lámina de baja calidad con una resistencia de contacto menos estable. Junto con la construcción sin bobina de Pickering, esto maximiza la eficiencia magnética, lo que permite el uso de conmutadores reed menos sensibles, lo que se traduce en una acción de conmutación óptima y una vida útil prolongada en condiciones operativas extremas. El blindaje magnético de mu-metal elimina los problemas que se producirían debido a la interacción magnética cuando los relés están apilados muy cerca unos de otros. Obtenga más información sobre las 10 ventajas clave de utilizar relés Pickering en lugar de otros relés típicos del sector.

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