Equipos de Prueba y Medida

Digitalizador PXI de NI y herramientas de análisis de jitter de LabVIEW

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National Instruments anunciado el digitalizador NI PXI-5162 y las actualizaciones de LabVIEW Jitter Analysis Toolkit. El digitalizador, gracias a sus 10 bits de resolución vertical y 5 GS/s de velocidad de muestreo, proporciona medidas de alta velocidad con cuatro veces más de resolución vertical que un osciloscopio tradicional de 8 bits. Gracias a su ancho de banda de 1,5 GHz y a sus cuatro canales en un slot, el NI PXI-5162 resulta ideal para los sistemas de digitalización que requieren un número elevado de canales para las pruebas de fabricación, investigación y caracterización de dispositivos. Los ingenieros pueden utilizar el digitalizador con LabVIEW y LabVIEW Jitter Analysis Toolkit, que ofrece una biblioteca de funciones optimizada para realizar las medidas de alto rendimiento de jitter, diagramas de ojo y ruido de fase exigidos en los entornos de validación automática y pruebas de producción.

 

DigitalizadorCaracterísticas de NI PXIe-5162
•    10 bits de resolución vertical para una mejor definición de la señal.
•    Cuatro canales en una solo slot 3U PXI Express, con capacidad de ampliación a 68 canales en un solo chasis PXI.
•    Velocidad de muestreo máxima de 5 GS/s en un canal ó 1,25 GS/s en cuatro canales simultáneamente.
Características de LabVIEW Jitter Analysis Toolkit
•    Funciones integradas para la recuperación de reloj, diagrama ojo, jitter, medidas de nivel y tiempo.
•    Programas de ejemplo para diagramas de ojo y pruebas de máscaras y separación del jitter aleatorio y determinista (RJ/DJ) utilizando métodos de separación dual-Dirac y basados en el espectro.

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