El VIP Extended de Microtest es un equipo de prueba automática (ATE) configurable para productos de potencia de silicio (Si), carburo de silicio (SiC) y nitruro de galio (GaN). Está diseñado para probar dispositivos como controladores de alta y baja tensión, IGBT, MOSFET de potencia y circuitos integrados de potencia.

Características destacadas:

Capacidad de prueba en paralelo de hasta 48 sitios a 1,7 kV y 20 A, y hasta 16 sitios a 4 kV y 20 A.
Alta eficiencia en pruebas de obleas y pruebas en tira, con capacidad para medir resistencia de puerta (Rg), capacitancia de puerta (Cg) y conmutación inductiva desbloqueada (UiS) en 48 sitios en paralelo.
Fuentes de corriente continua de media potencia con hasta 64 recursos (±110V, ±4A).
Capacidad de hundimiento/fuente de corriente programable de hasta ±250A.
Hasta 320 canales digitales con niveles de salida de -1,25V a 6,75V, memoria de patrones de 64M por canal y un PPMU por canal.
Unidades de medición de tiempo, controladores digitales flotantes, medidores LCR, PPMU y picómetros con una precisión de hasta 20pA, todos disponibles en configuraciones de hasta 64 unidades.
Cargas inductivas y resistivas configurables.
Opción de alta tensión (HV) de hasta 1700V.

Dimensiones:

Altura: 350 mm
Ancho: 600 mm
Profundidad: 640 mm
MICROTEST
El VIP Extended ofrece una solución eficiente y rentable para pruebas de productos de potencia, optimizando el rendimiento y reduciendo los costos operativos.

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