Los subsistemas eléctricos de alta tensión para vehículos eléctricos e híbridos requieren un mecanismo que proteja la distribución de alta tensión y las cargas en caso de sobrecarga. Con el objetivo de proporcionar a los diseñadores de estos tipos de vehículos una solución más rápida y fiable para la protección de circuitos de alta tensión, Microchip Technology ha presentado la tarjeta de demostración E-Fuse (fusible electrónico) basada carburo de silicio (SiC) y disponible en seis versiones para sistemas de baterías de 400–800V y corrientes de hasta 30A.

Esta tarjeta de demostración puede detectar e interrumpir corrientes de falla en microsegundos, por lo que es 100–500 veces más rápida que las soluciones tradicionales de tipo mecánico gracias a su diseño de estado sólido de alta tensión. El rápido tiempo de respuesta disminuye notablemente los picos de corriente de cortocircuito de decenas de kiloamperios a centenares de amperios, evitando así que se produzcan daños graves.

“La tarjeta de demostración E-Fuse se dirige a los diseñadores de vehículos eléctricos e híbridos, a los que proporciona una solución basada en SiC para impulsar su proceso de desarrollo con un método más rápido y fiable que protege la electrónica de potencia”, declaró Clayton Pillion, vicepresidente de la unidad de negocio de carburo de silicio de Microchip. “El diseño de estado sólido del fusible electrónico acaba con la preocupación por la fiabilidad a largo plazo de los dispositivos electromecánicos porque no sufren la degradación provocada por choques mecánicos, arcos eléctricos o rebotes del contacto”.

Gracias a la función de reinicialización de la tarjeta de demostración E-Fuse, los diseñadores pueden incorporar un fusible electrónico en el vehículo con facilidad y sin las limitaciones impuestas por un diseño que facilite el mantenimiento. Esto disminuye la complejidad del diseño y aumenta el grado de flexibilidad para mejorar la distribución del sistema de alimentación en los vehículos eléctricos e híbridos.

Los fabricantes pueden acelerar el desarrollo de aplicaciones auxiliares basadas en SiC con la tarjeta de demostración E-Fuse mediante la incorporación de una interfaz de comunicación LIN (Local Interconnect Network). La interfaz LIN permite configurar las características de respuesta frente a sobrecorrientes sin necesidad de modificar los componentes de hardware y también ofrece informes de diagnóstico.

La tarjeta de demostración E-Fuse aprovecha los inigualables niveles de robustez y rendimiento de la tecnología de los MOSFET de SiC de Microchip y de los periféricos independientes del núcleo (Core Independent Peripherals, CIP) en sus microcontroladores PIC® con una interfaz basada en LIN. Los componentes auxiliares, que están homologados para automoción, destacan por el bajo número de dispositivos y su mayor fiabilidad respecto a un diseño discreto.

Las soluciones de potencia de SiC de Microchip proporcionan el catálogo más amplio y flexible de MOSFET, diodos y drivers de puerta sin encapsular, discretos, módulos y módulos de potencia a medida. Para más información sobre los semiconductores de SiC de Microchip, visite nuestra web.

Herramientas de desarrollo
La tarjeta de demostración E-Fuse cuenta con el soporte del entorno de desarrollo integrado (IDE) MPLAB® X para que los clientes puedan desarrollar y depurar el software con rapidez. La herramienta de desarrollo para análisis serie de LIN permite que los clientes puedan recibir y enviar mensajes en serie entre un PC y la tarjeta de demostración E-Fuse.

Más información