Omron Electronic Components Europe ha ampliado su gama de puntas de prueba para dispositivos semiconductores y comprobación de obleas con la incorporación de un nuevo tipo de resorte exterior que ofrece la mejor estabilidad de contacto posible, así como mayores prestaciones en aplicaciones de alta frecuencia.

Las nuevas puntas de prueba XP3B de Omron utilizan la tecnología de electroconformación para lograr unas prestaciones excepcionales con un diámetro de 0,38mm, 0,30mm o incluso 0,22mm. Estas puntas de prueba incorporan una innovadora estructura de émbolo para asegurar un contacto estable y se suministra en tres formas distintas dependiendo de la aplicación.

Pese a su tamaño miniatura, las sondas pueden manejar corrientes de 2A (1A para la versión de 0,22mm de diámetro). Su vida nominal es de un millón de operaciones y se caracterizan por una baja fuerza de contacto de 33gf – 8gf dependiendo del diámetro. La versión de alta frecuencia es más corta, reduciendo la longitud del resorte y por tanto la inductancia a alta frecuencia. El resultado es una baja pérdida de inserción a frecuencias de 10 – 40GHz y una reducida pérdida de retorno.

Esta nueva punta de prueba viene a complementar a la ya conocida XP3A. Gracias a la tecnología de electroconformación, Omron ha creado a un dispositivo plano de una sola pieza y excepcionalmente compacto, con un grosor de tan solo 0,06 – 0,08mm y una corriente nominal de 0,25A. Las puntas de prueba convencionales están formadas por cuatro piezas: émbolos superior e inferior, tambor y resorte.

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