El chip Gen2 UHF EM4124 de EM Microelectronic gana la certificación de interoperabilidad EPCglobal®
EM Microelectronic, empresa de semiconductores del Grupo Swatch y proveedor líder global de circuitos RFID, ha anunciado que EPCglobal®, Inc. ha concedido la certificación EPC (Electronic Product Code™ al EM4124, su último chip RFID UHF, lo que garantiza que cumple con el protocolo de interfaz aéreo UHF Class 1 Generation 2 EPCglobal
y por lo tanto interactúa con otros dispositivos certificados "Gen2". La firma externa de evaluación, MET Laboratories ha realizado las pruebas EPCglobal de interoperabilidad de los productos en el EM4124 como parte de un amplio programa de certificación de hardware y de cumplimiento de los estándares para chips RFID, etiquetas, lectores e impresoras.
El nuevo dispositivo RFID Gen2 de EM logra una sensibilidad típica de lectura de -19dBm a nivel de chip, que se traduce en una sensibilidad típica de -21dBm a nivel de etiqueta para una antena dipolo con ganancia de 2dBi. Con este rendimiento sin igual, el EM4124 ofrece la distancia más larga de lectura actual en su clase.
Cada dispositivo se entrega con un identificador único (TID/UID) de 64-bit programado y bloqueado por el fabricante para garantizar una trazabilidad completa. Además, la memoria no volátil de 256 bits permiten el soporte de las estructuras de datos ISO y EPC; el usuario puede programar un código EPC de 112 bit, una contraseña "kill password" de 32 bit y una contraseña de acceso de 32 bit.
A través del cumplimiento de los estándares del EM4124, se garantiza a los usuarios finales que serán capaces de utilizar las etiquetas basadas en EM4124, perfectamente en todo el mundo. La presencia de un TID programados de fábrica, además del código EPC habitual además evita inconsistencias de los datos o la clonación de la etiqueta.
Disponibilidad
El EM4124 está disponible como chip lacado en oro o "back lapped", en obleas cortadas y ya se está entregando en pedidos de gran volumen a fabricantes que están aprovechando su alta sensibilidad de lectura en incrustaciones de alto rendimiento en múltiples formas y configuraciones. Hay disponibles etiquetas de muestra bajo petición.
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