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Toshiba lanza memoria flash BENANDTM SLC NAND de 24nm 8 GB

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Toshiba Electronics Europe ha ampliado su gama de memoria flash BENANDTM SLC NAND con corrección de errores de 8 bits integrado ( ECC ). El lanzamiento de la nueva BENAND SLC 8Gb 24nm permite a los fabricantes utilizar la última tecnología de 24nm en los dispositivos que se han diseñado para usar NAND 4xnm,

6463a wampliando la vida del producto de electrónica de consumo, dispositivos multimedia, contadores inteligentes, sistemas inteligentes de iluminación y tecnología industrial.

BENAND elimina la carga del ECC del procesador huesped y permite a los diseñadores utilizar la tecnología líder de proceso NAND flash. Para garantizar una migración fácil, la nueva BENAND ha sido diseñada para que funciones como el tamaño Page/Block, el tamaño del área de reserva, los comandos, la interfaz y el encapsulado se mantengan igual que la anterior 4xnm SLC NAND.

El precio de la memoria NAND flash conseguido en los nodos de proceso avanzado se reduce, pero las células más pequeñas se vuelven más vulnerables para programar/borrar tensiones. Esto requiere ECC más compleja para mantener los niveles deseados de fiabilidad - por ejemplo pequeña densidad 4xnm SLC NAND requiere 1 bit ECC, 3xnm SLC NAND requiere 4bit ECC y 2xnm SLC NAND requiere 8 bits ECC.

ECC tradicionalmente se ha integrado en los controladores de host, a menudo haciendo el cambio a uno más nuevo, NAND más eficiencte y requiere mucho tiempo de trabajo ya que el procesador central se debe cambiar para permitir el nivel requerido de corrección de errores. Sin embargo, BENAND reescribe este paradigma moviendo el ECC al chip NAND y permitiendo usar controladores heredados con la última tecnología NAND - reduciendo los costes de la lista de materiales y los costes del diseño del sistema, manteniendo la alta fiabilidad de SLC NAND.

Esta introducción de 8Gb amplía la gama de BENAND de 1GB a 8GB, que está disponible en paquetes de TSOP y BGA y en rangos de temperatura de funcionamiento industriales y de consumo.

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